可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱主要用于對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行高低溫試驗(yàn)，濕熱試驗(yàn)。主要為航空、航天、汽車、摩托車、、石油、化工、船舶、電子、通信、學(xué)院等科研及生產(chǎn)單位提供恒定溫度或恒定濕熱的氣候環(huán)境，供用戶對(duì)整機(jī)(或部件)、電器、儀器、材料、涂層、鍍層等作相應(yīng)的高低溫漸變?cè)囼?yàn)、濕熱試驗(yàn)、耐寒性試驗(yàn)、濕熱儲(chǔ)存等，以便對(duì)試樣在擬定環(huán)境條件下的性能、適應(yīng)性作出分析及評(píng)價(jià)。更能真實(shí)地反映電工、電子產(chǎn)品在實(shí)際使用過(guò)程中對(duì)高低溫、濕熱環(huán)境變化的適應(yīng)性，暴露產(chǎn)品的缺陷，是新產(chǎn)品研制、樣機(jī)試驗(yàn)、產(chǎn)品合格鑒定試驗(yàn)全過(guò)程*的重要試驗(yàn)手段。
   

    可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱一般由試驗(yàn)室箱體、控制系統(tǒng)、制冷系統(tǒng)、加熱/加濕系統(tǒng)、除濕系統(tǒng)、風(fēng)道系統(tǒng)等部分組成。試驗(yàn)室內(nèi)溫度狀態(tài)由風(fēng)道中的蒸發(fā)器、加熱器、加濕器、除濕器等以及風(fēng)機(jī)的工作狀態(tài)決定。其工作空間的試驗(yàn)溫度是否均勻是一個(gè)非常重要的問(wèn)題，因?yàn)槿绻麥囟炔痪鶆虺^(guò)了允許偏差，則受試樣品的試驗(yàn)條件達(dá)不到一致，有的樣品或樣品某一部分，試驗(yàn)溫度偏高，有的偏低，從而產(chǎn)生過(guò)試驗(yàn)或欠試驗(yàn)的問(wèn)題，使試驗(yàn)的再現(xiàn)性差，試驗(yàn)得出的數(shù)據(jù)不可靠，*終使試驗(yàn)歸于失敗。

JJF1101-2003《環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備溫度、濕度校準(zhǔn)規(guī)范》中溫度均勻度定義:試驗(yàn)箱在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間在某一瞬時(shí)各測(cè)試點(diǎn)溫度之間的差值。

    可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱校準(zhǔn)方法:校準(zhǔn)溫、濕度點(diǎn)一般應(yīng)選擇設(shè)備使用范圍的下限、上限及中間點(diǎn)，也可根據(jù)用戶需要選擇實(shí)際常用的溫、濕度點(diǎn)。測(cè)試點(diǎn)的位置應(yīng)布放在設(shè)備工作室內(nèi)的三個(gè)校準(zhǔn)面上，簡(jiǎn)稱上、中、下三層，中層。為通過(guò)工作室?guī)缀沃行牡钠叫杏诘酌娴男?zhǔn)工作面，測(cè)試點(diǎn)與工作室內(nèi)壁的距離不小于各邊長(zhǎng)的1/10，遇風(fēng)道時(shí)，此距離可加大，但不能大于500mm。如果設(shè)備帶有樣品架或樣品車時(shí)，下層測(cè)試點(diǎn)可布放在樣品架或樣品車上方10mm處。測(cè)試點(diǎn)的數(shù)量:

(1)當(dāng)設(shè)備容積小于2m³時(shí)，溫度測(cè)試點(diǎn)為9個(gè)，濕度測(cè)試點(diǎn)為3個(gè)，0點(diǎn)位于中層幾何中心。

(2)當(dāng)容積大于2m³時(shí)，溫度測(cè)試點(diǎn)為15個(gè)，濕度測(cè)試點(diǎn)為4個(gè)，E,O,N分別位于上、中、下層的幾何中心。

(3)當(dāng)工作容積大于50m³時(shí)，測(cè)試點(diǎn)可適當(dāng)增加。

    其溫度均勻度計(jì)算:環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備在穩(wěn)定狀態(tài)下，在30min內(nèi)(每2min測(cè)試一次)每次測(cè)試中實(shí)測(cè)溫度與溫度之差的算術(shù)平均值。